E. Joffrin;
C. Challis;
J. Citrin;
J. Garcia;
J. Hobirk;
I. Jenkins;
J. Lonnroth;
D. C. McDonald;
P. Maget;
P. Mantica;
M. Beurskens;
M. Brix;
P. Buratti;
F. Cristianti;
L. Frassinetti;
C. Giroud;
F. Iimbeaux;
M. Piovesan;
F. Rimini;
G. Sergienko;
A.C.C. Sips;
T. Tala;
I. Voitsekovitch;
JET EFDA contributors;
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E. Joffrin;
A.C.C. Sips;
J.F. Artaud;
A. Becoulet;
R. Budny;
P. Buratti;
P. Belo;
C.D. Challis;
F. Crisanti;
M. de Baar;
P. de Vries;
C. Gormezano;
C. Giroud;
O. Gruber;
G.T.A. Huysmans;
F. Imbeaux;
A. Isayama;
X. Litaudon;
P.J. Lomas;
D. C. McDonald;
Y.S. Na;
S.D. Pinches;
A. Staebler;
T. Tala;
A. Tuccillo;
K.-D. Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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I. Voitsekhovitch;
X. Garbet;
D.C. McDonald;
K.-D. Zastrow;
M. Adams;
Yu. Baranov;
P. Belo;
L. Bertalot;
R. Budny;
S. Conroy;
J.G. Cordey;
L. Garzotti;
P. Mantica;
D. McCune;
J. Ongena;
V. Parail;
S. Popovichev;
D. Stork;
A.D. Whiteford;
JET EFDA Contributors;
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E. Joffrin;
F. Crisanti;
R. Felton;
X. Litaudon;
D. Mazon;
D. Moreau;
L. Zabeo;
R. Albanese;
M. Ariola;
D. Alves;
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V. Basiuk;
A. Bécoulet;
M. Bécoulet;
J. Blum;
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K. Bosak;
E. de la Luna;
J.M. Chareau;
M. de Baar;
P. de Vries;
P. Dumortier;
D. Elbeze;
J. Farthing;
H. Fern;
es;
C. Fenzi;
R. Giannella;
K. Guenther;
J. Harling;
N. Hawkes;
T. C. Hender;
D. F. Howell;
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F. Imbeaux;
P. Innocente;
L. Laborde;
G. Lloyd;
P. J. Lomas;
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M. Mantsinen;
A. Messiaen;
A. Murari;
J. Ongena;
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M. Riva;
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F. Sartori;
O. Sauter;
A. C. C. Sips;
T. Tala;
A. Tuccillo;
D. Van Ester;
K.-D. Zastrow;
M. Zerbini;
JET EFDA contributors;
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